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J-GLOBAL ID：201802238562167387   整理番号：18A0587253

進行サブミクロンFinFET標準セルライブラリ用のセンス増幅器に基づく高速フリップフロップの設計【Powered by NICT】

Sense amplifier based high speed flip-flop design for advanced sub-micron FinFET standard cell library

著者 (5件)： Mittal Sajal (Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India) ,  Bhatia Jaskaran (Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India) ,  Deshpande Rajeela (Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India) ,  Ghosh Abhishek (Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India) ,  Rana Parvinder Kumar (Samsung Semiconductor India R&D Center, Bangalore, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICCE-Asia  ページ： 88-91  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい高速センス増幅器ベースフリップフロップを提案した。提案されたフリップフロップ設計はD2Q遅延とグリッチが少ない出力を改善した。センスアンプ積層秩序の詳細な解析を提示し,フリップフロップの通常の変異体に比較して,提案したセンス増幅器設計はクロックデバイス,入力とフィードバックトランジスタの多重積層桁を利用し,フロップの性能の約25%の全利点を示した。シミュレーション結果は,業界標準生産特性化装置を用いたサブミクロンFinFET技術に対して得られた。製造時のバグのない動作と高収率を確実にするために提案した設計を行ったモンテカルロストレスチェック。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： グリッチ ,  *センス増幅器 ,  ソフトウェア障害 ,  *高速度 ,  *双安定回路 ,  キャラクタリゼーション ,  多層膜 ,  シミュレーション
準シソーラス用語： *セルライブラリ ,  *FinFET , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 増幅回路  (NC05040U) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (7件)： サブ ,  FinFET ,  標準セル ,  ライブラリ ,  センス増幅器 ,  フリップフロップ ,  設計