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J-GLOBAL ID：201802238976198972   整理番号：18A1699155

ホウ素イオンを照射したポリカーボネート薄膜中放射線損傷の面分布

著者 (9件)： 浜野拳 (神戸大) ,  楠本多聞 (放医研) ,  東和樹 (神戸大) ,  大谷拓也 (神戸大) ,  酒井盛和 (神戸大) ,  金崎真聡 (神戸大) ,  小田啓二 (神戸大) ,  小平聡 (放医研) ,  山内知也 (神戸大)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 79th  ページ： ROMBUNNO.20a-224B-4  発行年： 2018年09月05日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ホウ素同位体 ,  イオン照射 ,  高分子薄膜 ,  *照射損傷 ,  赤外分光法 ,  *吸光度 ,  粒子飛跡 ,  基 ,  収率 ,  密度 ,  *ビスフェノールAポリカーボネート ,  *固体飛跡検出器 ,  ホウ素11 ,  官能基 ,  放射化学収率 ,  面密度 ,  赤外顕微分光法 ,  イオン飛跡 ,  *放射線検出器
準シソーラス用語： 顕微赤外分光法 ,  イオントラック

分類 (2件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (5件)： ホウ素イオン ,  ポリカーボネート ,  薄膜 ,  放射線損傷 ,  分布