Sato Katsutoshi について
Hitachi Ltd., Saiwai-cho 1-1, Hitachi, Ibaraki, 317-8511, Japan について
Abe Makoto について
National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki, 305-8563, Japan について
Takatsuji Toshiyuki について
National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki, 305-8563, Japan について
Precision Engineering について
X線 について
制動放射 について
送風機 について
分解能 について
立体構造 について
X線源 について
画素 について
再構成 について
検出器 について
走査 について
オフセット について
高分解能 について
X線CT について
コンピューター断層撮影 について
検査 について
X線検査 について
放射線検査 について
X線診断 について
非破壊検査 について
計算機トモグラフィー について
サイノグラム について
工作機械要素,ジグ,チャック について
高エネルギー について
高分解能 について
X線CT について
開発 について