Wu Kuan-Te について
Advanced Reliable Systems (ARES) Lab. Department of Electrical Engineering, National Central University, Taoyuan, Taiwan 320 について
Li Jin-Fu について
Advanced Reliable Systems (ARES) Lab. Department of Electrical Engineering, National Central University, Taoyuan, Taiwan 320 について
Lo Chih-Yen について
Information and Communication Research Laboratories, Industrial Technology Research Institute, Hsinchu, Taiwan 310 について
Lai Jenn-Shiang について
Information and Communication Research Laboratories, Industrial Technology Research Institute, Hsinchu, Taiwan 310 について
Kwai Ding-Ming について
Information and Communication Research Laboratories, Industrial Technology Research Institute, Hsinchu, Taiwan 310 について
Chou Yung-Fa について
Information and Communication Research Laboratories, Industrial Technology Research Institute, Hsinchu, Taiwan 310 について
IEEE Conference Proceedings について
DRAM について
テストパターン について
チャネル について
BIST について
待ち時間 について
マルチチャネル について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
チャネル について
DRAM について
共有 について
組込み自己テスト について