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J-GLOBAL ID：201802242527225919   整理番号：18A1047175

RBPとRIP絶縁によるブッシングの誘電応答に及ぼす熱エージングプロセスの影響【JST・京大機械翻訳】

The effect of thermal aging process on dielectric response of bushings with RBP and RIP insulation

著者 (3件)： Subocz Jan (West Pomeranian University of Technology, Szczecin, Dep. of Electrotechnology and Diagnostic) ,  Mrozik Andrzej (West Pomeranian University of Technology, Szczecin, Dep. of Electrotechnology and Diagnostic) ,  Bohatyrewicz Patryk (West Pomeranian University of Technology, Szczecin, Dep. of Electrotechnology and Diagnostic)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： i-MITEL  ページ： 1-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,模擬長期エージングプロセスの効果としてブッシング絶縁の誘電応答を提示した。実験は,電流回路とカバーの間の高温差の条件で行った。誘電応答を方法SVM(ステップ電圧測定)で測定した。研究は,時効時間とSVM解析で得られたいくつかのパラメータの間の相関を示した。複数年間の運転時間後のブッシングの測定を行い,時間とともに,係数Kaが上昇することを観察した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電流 ,  走行時間 ,  電圧測定 ,  *ブッシング ,  高温 ,  熱劣化 ,  時効
準シソーラス用語： *誘電応答 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電力線路要素・工事  (NB05020V)

タイトルに関連する用語 (6件)： RIP ,  絶縁 ,  ブッシング ,  誘電応答 ,  熱エージング ,  プロセス