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J-GLOBAL ID：201802242733051190   整理番号：18A0518225

t-way試験生成戦略のためのクラッシュ回復支援の統合【Powered by NICT】

Integrating crash recovery support for t-way test generation strategy

著者 (4件)： Abdullah Syahrul Afzal Che (Centre for Computer Engineering Studies, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi MARA (UiTM), 40450 Shah Alam, Selangor, Malaysia) ,  Soh Zainal Hisham Che (Centre for Computer Engineering Studies, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi MARA (UiTM), 40450 Shah Alam, Selangor, Malaysia) ,  Shahbudin Shahrani (Centre for Computer Engineering Studies, Faculty of Electrical Engineering, Universiti Teknologi MARA (UiTM), 40450 Shah Alam, Selangor, Malaysia) ,  Zamli Kamal Zuhairi (Faculty of Computer Systems & Software Engineering, Universiti Malaysia Pahang (UMP), 26300 Gambang, Kuantan, Pahang, Malaysia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICEESE  ページ： 17-20  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： クラッシュ回復サポートを用いたt方向テストデータ生成戦略の統合,障害回復支援(TSGCR)とテストスイート発生器と呼ばれるを明らかにした。既存の戦略とは異なり,TSGCR戦略の一部として事故復旧支援統合を可能にした。テスト生成は,潜在的に持続性プロセス(すなわちパラメータ値の大きな選択による)できるので,TSGCRは不随意トランザクション障害(例えば停電やシステム誤差のような)または自発的実行懸濁液(例えば他の計算のための方法を与える)最終一致状態への状態とデータのシームレスな回復を可能にすることを許容した。TSGCRはt方向テスト生成戦略のためのクラッシュ回復支援の適用性を検討するため,媒体としても役立っている。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 媒質 ,  適応性 ,  *障害回復
準シソーラス用語： シームレス ,  テスト生成 ,  事故復旧 ,  テストスイート , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  計算機システム開発  (JD02010R) ,  論理回路  (NC05070B) ,  その他の情報処理  (JE15050M)

タイトルに関連する用語 (6件)： 試験 ,  戦略 ,  クラッシュ ,  回復 ,  支援 ,  統合