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J-GLOBAL ID:201802243789618277   整理番号:18A1513699

絶縁ポリシリコンゲートを用いたCMOSトランジスタのF_T増強【JST・京大機械翻訳】

fT Enhancement of CMOS Transistor Using Isolated Polysilicon Gates
著者 (3件):
資料名:
巻: 2018  号: RFIC  ページ: 76-79  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,CMOSトランジスタの電流利得性能を向上させるために,孤立したポリシリコンゲートを用いたレイアウト法を提案した。一方,不整合の考慮のために対称的な接触形状を保存し,ゲートルーティングにおける柔軟性を可能にした。ポリシリコン面積の減少により,従来の櫛型レイアウトよりも少ないゲート容量を実証した。その結果,最大通過周波数,f_Tにおける12GHzの改善が,単一ゲートレベルでの最適化に対してさえ記録された。さらに,トランジスタゲート寄生の最適化における柔軟性を可能にするために,孤立したゲートレイアウトの変種を導入した。それらは,同じ二重ゲート接触スタイルに対するゲート抵抗に対して無視できる影響しか持たないことが分かった。実験的に実証されたように最大電力利得を損なうことなく,記述された利点を実現した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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