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J-GLOBAL ID：201802245147545399   整理番号：18A1899052

雑音源振幅変調と相関解析を用いた電磁放射に対する優性ICの同定【JST・京大機械翻訳】

Identification of Dominant ICs for Electromagnetic Emission by Using Noise Source Amplitude Modulation and Correlation Analysis

著者 (5件)： Yoshino Shimpei (Okayama University Okayama, Graduate School of Natural Science and Technology, Japan) ,  Ishida Chiaki (Okayama University Okayama, Graduate School of Natural Science and Technology, Japan) ,  Iokibe Kengo (Okayama University Okayama, Graduate School of Natural Science and Technology, Japan) ,  Toyota Yoshitaka (Okayama University Okayama, Graduate School of Natural Science and Technology, Japan) ,  Nogami Yasuyuki (Okayama University Okayama, Graduate School of Natural Science and Technology, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： EMC Europe  ページ： 439-444  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電磁干渉(EMI)を低減するために低コストで支配的な雑音源である半導体素子を同定するために,雑音源振幅変調技術と相関解析(NSM-CA)に基づく方法を提案した。本研究では,多重集積回路(IC)を有するプリント基板(PCB)にNSM-CA法を適用し,EM放出に主に寄与するICを同定した。ICの3つで生成されたスイッチング電流は,3つの異なる変調信号をもつ振幅で変調された。雑音源振幅変調を,変調信号として3つの擬似ランダム二値系列(PRBS)を用いて,PCB上に実装したFPGAに実装した。変調の間,EM放出は,放出がEMI規制の限界を超えた周波数で測定された。測定された放出の時間変化はPRBSのそれぞれと相関していた。発光に対するICの寄与のランキングを,得られた相関係数によって決定した。ランキングに従って,EMI低減技術の組合せが主に適用されなければならない主要なICを同定した。さらに,EMI低減技術を主なICに適用し,技術を低優先度ICに適用した場合よりも発光の大きな減少を見出した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 半導体素子 ,  *雑音発生器 ,  *電磁波放射 ,  *振幅変調 ,  等級づけ ,  電磁干渉 ,  周波数 ,  相関係数 ,  経時変化 ,  優先度 ,  FPGA ,  プリント基板 ,  多重化 ,  *相関分析
準シソーラス用語： スイッチング電流 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 雑音源 ,  振幅変調 ,  相関解析 ,  電磁放射 ,  優性 ,  IC ,  同定