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J-GLOBAL ID:201802246441217999   整理番号:18A1678315

単層基板集積画像ガイドと同軸プローブの間の遷移【JST・京大機械翻訳】

A Transition Beween Single-Layer Substrate Integrated Image Guide and Coaxial Probe
著者 (2件):
資料名:
巻: 2018  号: CSQRWC  ページ: 1-3  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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基板集積画像ガイド(SIIG)は低損失で高Q値の平面伝送線路である。製造の複雑さを低減するために,単層PCB技術で実現したSIIGを紹介した。このタイプのSIIGと従来のものとの差を解析した。単一層PCBプロセスによって引き起こされる付加的漏れ損失を最小化するために実行可能な方法を提案し,従来のSIIGと比較して類似の性能を達成した。13.2GHzから14.8GHzまで動作するSIIG線路をこの方法を用いて設計した。次に,同軸プローブからSIIGへの単層遷移を示した。このような遷移を有する132.2mm長単層PCBベースSIIGを設計し,作製した。測定結果は,挿入損失が4.25dBより良いが,リターン損失は13.2GHzから14.8GHzまで-10dB以下であることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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