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J-GLOBAL ID:201802247682094835   整理番号:18A1362358

インピーダンス分光法と容量-電圧測定解析:バルクヘテロ接合P3HT:PCBM太陽電池における電荷キャリア寿命とマッピング垂直偏析の影響【JST・京大機械翻訳】

Impedance spectroscopy and capacitance - voltage measurements analysis: Impact of charge carrier lifetimes and mapping vertical segregation in bulk heterojunction P3HT: PCBM solar cells
著者 (3件):
資料名:
巻: 61  ページ: 276-281  発行年: 2018年 
JST資料番号: W1352A  ISSN: 1566-1199  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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インピーダンス分光測定を用いて,P3HT:PCBMバルクヘテロ接合太陽電池における電荷キャリア寿命に及ぼす熱アニーリングの影響を研究した。150°Cでの熱アニーリングにより,電荷キャリア寿命と素子性能の間の相関を同定した。ここで報告した最良の電力変換効率は150°Cでアニールした素子に対応し,最長の電荷キャリア寿命をもたらした。横方向偏析に加えて,熱アニーリングは,静電容量-電圧測定から得られた結果の解析から明らかなように,垂直偏析を誘起するカソードへのPCBM分子凝集体の蓄積を促進する。Mott-Schottky関係に基づいて,熱アニーリングの関数としての平坦バンドポテンシャルの測定値をカソード界面でのPCBM濃度と相関させ,熱アニーリングにより誘起された組成勾配プロフィルを提案した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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高分子固体の物理的性質  ,  太陽電池 
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