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J-GLOBAL ID：201802247902277461   整理番号：18A1257809

硬化ラッチのソフトエラー耐性に及ぼす生産欠陥の影響【JST・京大機械翻訳】

The impact of production defects on the soft-error tolerance of hardened latches

著者 (3件)： Holst Stefan (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, 820-8502, Japan) ,  Ma Ruijun (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, 820-8502, Japan) ,  Wen Xiaoqing (Kyushu Institute of Technology, Iizuka, 820-8502, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ETS  ページ： 1-6  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現代の技術ノードがソフトエラーにより敏感になるので,様々な硬化ラッチセルが提案されている。同時に,フィールドの過渡故障に耐えるために使用された追加の冗長性は,セル内部の生産欠陥の試験範囲を減少させる。さらに,試験により,欠陥ラッチのソフトエラー耐性を低減した。本研究では,硬化したラッチ内の未発見の生産欠陥によって引き起こされる粒子ストライクのような過渡的な脆弱性を正確に測定するPost Test Vulnerability factorと呼ばれる新しいソフトエラー脆弱性尺度を紹介した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ソフトエラー ,  冗長性
準シソーラス用語： 脆弱性 ,  過渡故障 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 硬化 ,  ソフトエラー ,  耐性 ,  欠陥