研究者
J-GLOBAL ID：200901080980799621   更新日: 2024年09月24日

温 暁青

オン ギョウセイ | Wen Xiaoqing
所属機関・部署：
九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系

九州工業大学 大学院情報工学研究院 情報・通信工学研究系 について


職名： 教授
その他の所属（所属・部署名・職名） (2件)：
ホームページURL (1件)： https://www.vlab.cse.kyutech.ac.jp/~wen/index.htm
研究分野 (2件)： 情報ネットワーク ,  計算機システム
研究キーワード (10件)： 高信頼性設計 ,  故障診断 ,  テスト容易化設計 ,  テスト ,  LSI ,  High-Reliability Design ,  Fault Diagnosis ,  Design for Testability ,  Test ,  LSI
競争的資金等の研究課題 (21件)：
  • 2021 - 2025 高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究
  • 2017 - 2021 高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究
  • 2015 - 2018 次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究
  • 2013 - 2018 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究
  • 2012 - 2015 高品質・低コストLSIの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究
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論文 (13件)：
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MISC (313件)：
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特許 (227件)：
  • Mask network design for scan-based integrated circuits
  • MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULTS DURING SCAN-TEST
  • MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULTS DURING SCAN-TEST
  • Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during scan-test
  • Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during scan-test
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書籍 (20件)：
  • 第3章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集
    日経BPコンサルティング 2014 ISBN:9784864430715
  • Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems
    CRC Press 2014 ISBN:9781466589407
  • Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems
    CRC Press 2014 ISBN:9781466589407
  • 第3章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体 入門編
    日経BPコンサルティング 2013 ISBN:9784864430395
  • Chapter 20 "Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits", Advanced Circuits for Emerging Technologies
    John Wiley & Sons 2012 ISBN:9780470900055
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講演・口頭発表等 (44件)：
  • 実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について
    (第66回 FTC 研究会 2012)
  • New Test Partition Approach for Rotating Test with Lower Rate
    (第66回 FTC 研究会 2012)
  • テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト
    (電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2011)
  • 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
    (電子情報通信学会技術研究報告 2011)
  • 知識ベースシステムに基づいたLSIテスト不良原因解析について
    (電子情報通信学会技術研究報告 2010)
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Works (53件)：
  • 高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究
    2017 - 2021
  • hift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power Circuits
    2017 - 2021
  • 次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究
    2015 - 2018
  • High-Quality False-Test-Avoidance Test for Next-Generation Low-Power LSI Circuits
    2015 - 2018
  • 体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究
    2013 - 2018
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学歴 (6件)：
  • - 1993 大阪大学 工学研究科 応用物理学
  • - 1993 大阪大学
  • - 1990 広島大学 工学研究科 情報工学
  • - 1990 広島大学
  • - 1986 清華大学 計算機科学技術学科 計算機科学技術
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学位 (3件)：
  • 博士(工学) (大阪大学)
  • 修士(工学) (広島大学)
  • 工学学士 (清華大学)
経歴 (23件)：
  • 2013 - 2017 九州工業大学ディペンダブル集積システム研究センター センター長
  • 2013 - 2017 Director,Research Center for Dependable Integrated Systems,Kyushu Institute of Technology
  • 2017 - 九州工業大学大学院情報工学研究院 情報創成工学研究系長
  • 2017 - 九州工業大学大学院情報工学府 情報創成工学専攻長
  • 2016 - Universiti Teknologi Malaysia (UTM)Embedded System Research Laboratory Asscociate Member
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委員歴 (408件)：
  • 2018 - 2019 International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT) Program Committee Member (2019)
  • 2018 - 2019 International Conference on VLSI Design (VLSID) Program Committee Member (2019)
  • 2018 - 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) Program Committee Member (2019)
  • 2018 - 2019 International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT) Program Committee Member (2019)
  • 2018 - 2019 International Conference on VLSI Design (VLSID) Program Committee Member (2019)
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受賞 (10件)：
  • 2018 - Best Paper Award
  • 2018 - Best Paper Award
  • 2016 - Best Paper Award
  • 2016 - Best Paper Award
  • 2012 - IEEEフェロー
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所属学会 (97件)：
IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) ,  International Conference on Intelligent Green Building and Smart Grid ,  International Doctoral Symposium on Applied Computation and Security Systems (ACSS) ,  IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) ,  IEEE International Symposium on Nanoelectronic and Information Systems (iNIS) ,  and Test (VLSI-DAT) ,  Automation ,  International Symposium on VLSI Design ,  IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systms (APCCAS) ,  International Conference on VLSI Design (VLSID) ,  IEEE International Reliability Innovations Conference (IRIC) ,  International Conference on Advanced Technologies for Communications (ATC) ,  IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) ,  IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) ,  Association of Computing Machinery (ACM) ,  Sensing and Control (ICNSC) ,  IEEE International Conference of Networking ,  Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE) ,  Design ,  IEEE International Workshop on Impact of Low-Power design on Test and Reliability (LPonTR) ,  IEEE/VSI VLSI Design And Test Symposium (VDAT) ,  IEEE International Conference on ASIC (ASICON) ,  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) ,  IEEE International Conference on Computer Design (ICCD) ,  IEEE European Test Symposium (ETS) ,  IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT) ,  IEEE International Workshop on Defect and Adaptove Test Analysis (DATA) ,  IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS) ,  Test and Applications (DELTA) ,  IEEE International Symposium on Electronic Design ,  Design Automation Conference (DAC) ,  Asian and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) ,  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) ,  and Evaluation for Dependability ,  Test ,  International Workshop on Computer-Aided Design ,  IEEE Great Lake Symposium on VLSI ,  IEEE Asian Test Symposium (ATS) ,  IEEE International Test Conference (ITC) ,  Indian Journal of VLSI and Electronic System Design ,  Journal of Computer Science and Technology ,  Journal of Electronic Testing: Theory and Applications ,  IEEE Transactions on VLSI Systems ,  IEEE Transactions on Computer-Aided Design ,  日本マイクロ・ナノバブル学会 ,  日本信頼性学会 ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会 ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ,  IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) ,  International Conference on Intelligent Green Building and Smart Grid ,  International Doctoral Symposium on Applied Computation and Security Systems (ACSS) ,  IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) ,  IEEE International Symposium on Nanoelectronic and Information Systems (iNIS) ,  and Test (VLSI-DAT) ,  Automation ,  International Symposium on VLSI Design ,  IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systms (APCCAS) ,  International Conference on VLSI Design (VLSID) ,  IEEE International Reliability Innovations Conference (IRIC) ,  International Conference on Advanced Technologies for Communications (ATC) ,  IEEE Latin-American Test Symposium (LATS) ,  IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) ,  Association of Computing Machinery (ACM) ,  Sensing and Control (ICNSC) ,  IEEE International Conference of Networking ,  Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE) ,  Design ,  IEEE International Workshop on Impact of Low-Power design on Test and Reliability (LPonTR) ,  IEEE/VSI VLSI Design And Test Symposium (VDAT) ,  IEEE International Conference on ASIC (ASICON) ,  IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC) ,  IEEE International Conference on Computer Design (ICCD) ,  IEEE European Test Symposium (ETS) ,  Test and Applications (DFT) ,  IEEE International Workshop on Defect and Adaptove Test Analysis (DATA) ,  IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS) ,  Test and Applications (DELTA) ,  IEEE International Symposium on Electronic Design ,  Design Automation Conference (DAC) ,  Asian and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) ,  IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) ,  and Evaluation for Dependability ,  Test ,  International Workshop on Computer-Aided Design ,  IEEE Great Lake Symposium on VLSI ,  IEEE Asian Test Symposium (ATS) ,  IEEE International Test Conference (ITC) ,  Journal of Electronic Testing: Theory and Applications ,  IEEE Transactions on VLSI Systems ,  IEEE Transactions on Computer-Aided Design ,  Japan Micro-Nano Bubble Society Corporation ,  Reliability Engineering Association of Japan ,  Information Processing Society of Japan (IPSJ) ,  Information and Communication Engineers (IEICE) ,  Institute of Electronic ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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