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J-GLOBAL ID：201802249635808123   整理番号：18A1302632

Xバンド試験台を用いたマイクロ波電力測定による誘電体材料の厚さの決定【JST・京大機械翻訳】

Determination of thickness oof dielectric material by microwave power measurement using X-band testbench

著者 (4件)： Islam Md A. (Department of Electronics and Communication Engineering, Techno India College of Technology, Block-DG, Action Area 1, Newtown, Kolkata-700156, India) ,  Maiti M. (Department of Electronics and Communication Engineering, Techno India College of Technology, Block-DG, Action Area 1, Newtown, Kolkata-700156, India) ,  Sil S. (Department of Electronics and Communication Engineering, Techno India College of Technology, Block-DG, Action Area 1, Newtown, Kolkata-700156, India) ,  Sanyal J. (Department of Electronics and Communication Engineering, Techno India College of Technology, Block-DG, Action Area 1, Newtown, Kolkata-700156, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： EDCT  ページ： 1-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波パワー測定は誘電材料の非破壊試験の確立された方法である。均一誘電体材料の物理的性質もそのような試験により決定できる。本研究では,マイクロ波パワー源としてGunn発振器を用いたXバンドマイクロ波テストベンチを用いて,材料により吸収されたマイクロ波パワーの測定を通して,均一な均一誘電体材料の厚さを決定する方法に焦点を当てた。厚さの変化による誘電材料により吸収されたマイクロ波パワーの変化をプロットするために,均一な均一紙と標準化された厚さのゴムを用いた実験を行った。この方法で得られたプロットは,本研究で実験が行われている周波数で吸収されたマイクロ波パワーの値から,類似の組成と均一な厚さの紙とゴムの厚さを見出すために使用できる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *誘電材料 ,  周波数 ,  標準化 ,  非破壊検査 ,  *マイクロ波
準シソーラス用語： マイクロ波電力 ,  *Xバンド , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N) ,  誘電体測定技術・装置  (BM05020Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： Xバンド ,  マイクロ波電力 ,  誘電体材料 ,  厚さ