文献

J-GLOBAL ID：201802252189458272   整理番号：18A1183439

楕円偏光による拡張Zスキャン法を用いたInPにおける3次非線形磁化率テンソルの測定

Measurement of third-order nonlinear susceptibility tensor in InP using extended Z-scan technique with elliptical polarization

著者 (6件)： OISHI Masaki (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  SHINOZAKI Tomohisa (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  HARA Hikaru (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  YAMAMOTO Kazunuki (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  MATSUSUE Toshio (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  BANDO Hiroyuki (Chiba Univ., Chiba, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57  号： 5  ページ： 050306.1-050306.4  発行年： 2018年05月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： InPにおける2光子吸収係数βの楕円偏光依存性は,1640-1800nmの波長範囲の厚い材料についての拡張Z走査技術によって測定されている。Z走査技術の解析式は,多重反射を考慮して拡張された。Z走査の結果は式によって非常にうまく適合し,βは正確に評価された。InPにおける3次の非線形磁化率テンソルの3つの独立した要素も,βの楕円偏光依存性から正確に決定された。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *楕円偏光 ,  *光学的測定 ,  *リン化インジウム ,  *非線形感受率 ,  *磁化率 ,  *テンソル ,  二光子吸収 ,  多重反射 ,  *Z走査法
準シソーラス用語： *Zスキャン法

分類 (2件)： 磁性体測定技術・装置  (BM06030I) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

引用文献 (18件)：

• D. C. Hutchings and B. S. Wherrett, Phys. Rev. B 50, 4622 (1994).
• D. C. Hutchings and B. S. Wherrett, Phys. Rev. B 52, 8150 (1995).
• D. C. Hutchings and B. S. Wherrett, Phys. Rev. B 49, 2418 (1994).
• M. Murayama and T. Nakayama, Phys. Rev. B 52, 4986 (1995).
• M. Murayama and T. Nakayama, Phys. Rev. B 55, 9628 (1997).

タイトルに関連する用語 (7件)： 楕円偏光 ,  拡張 ,  Zスキャン法 ,  InP ,  非線形 ,  磁化率 ,  テンソル