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J-GLOBAL ID：201802252811248346   整理番号：18A0116273

拡張信頼性とサブセットシミュレーションを用いた効率的なエージング対応故障確率推定

Efficient Aging-Aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation

著者 (2件)： AWANO Hiromitsu (VLSI Design and Education Center, The University of Tokyo) ,  SATO Takashi (Graduate School of Informatics, Kyoto University)
資料名： IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web)  (IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web))
巻： E100.A  号： 12  ページ： 2807-2815(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U0466A  ISSN： 1745-1337  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： まれな回路故障確率の時間変化を効率的に計算する回路エージングシミュレーションを提案する。従来の方法では,各デバイス年齢における故障確率の個別計算を行う必要性により長い計算時間が必要であったが,提案のモンテカルロベースの方法は,単一セットのシミュレーションを実行する必要がある。拡張信頼性およびサブセットシミュレーションフレームワークを適用することにより,デバイスの寿命に沿った故障確率の変化は,モンテカルロサンプルの分析によって評価することができる。2ステップのサンプル生成手法と組み合わせて,提案手法は,十分な推定精度を維持しながら計算時間を従来手法の約1/6に短縮する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *信頼性 ,  *部分集合 ,  *シミュレーション ,  *劣化故障 ,  *統計的推定 ,  故障 ,  故障率 ,  経時変化 ,  モンテカルロ法 ,  標本抽出 ,  精度 ,  CPU時間
準シソーラス用語： 回路故障 ,  モンテカルロサンプリング ,  推定精度

著者キーワード (5件)： failure probability calculation ,  NBTI ,  Monte Carlo ,  subset simulation ,  augmented reliability

分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  統計的品質管理  (KB04030W)

引用文献 (18件)：

• [1] A. Bhavnagarwala, X. Tang, and J. Meindl, “The impact of intrinsic device fluctuations on CMOS SRAM cell stability,” IEEE J. Technol. Computer Aided Des., vol.36, no.4, pp.658-665, 2001. 10.1109/4.913744
• [2] R. Kanj, R. Joshi, and S. Nassif, “Mixture importance sampling and its application to the analysis of SRAM designs in the presence of rare failure events,” Design Autom. Conf., pp.69-72, 2006. 10.1109/dac.2006.229167
• [3] K. Katayama, S. Hagiwara, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato, “Sequential importance sampling for low-probability and high-dimensional SRAM yield analysis,” Int. Conf. Comput. Aided Design, pp.703-708, 2010. 10.1109/iccad.2010.5654259
• [4] S.K. Au and J.L. Beck, “Estimation of small failure probabilities in high dimensions by subset simulation,” Probabilistic Eng. Mechanics, vol.16, no.4, pp.263-277, 2001. 10.1016/s0266-8920(01)00019-4
• [5] S. Sun and X. Li, “Fast statistical analysis of rare circuit failure events via subset simulation in high-dimensional variation space,” Int. Conf. Comput. Aided Design, pp.324-331, 2014. 10.1109/iccad.2014.7001370

タイトルに関連する用語 (5件)： 拡張 ,  サブセットシミュレーション ,  エージング ,  故障確率 ,  推定