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J-GLOBAL ID：201802253223806364   整理番号：18A0495581

Pt/Cr₂O₃積層膜における非線形ホール効果とX線MCD測定

著者 (7件)： 白土優 (大阪大 大学院) ,  青野晃 (大阪大) ,  森山貴広 (京大 化研) ,  鈴木基寛 (JASRI) ,  中村哲也 (JASRI) ,  小野輝男 (京大 化研) ,  中谷亮一 (大阪大 大学院)
資料名： 日本金属学会講演概要(CD-ROM)  (Collected Abstracts of Spring Meeting of the Japan Institute Metals and Materials (CD-ROM))
巻： 162nd  ページ： ROMBUNNO.257  発行年： 2018年03月05日 
JST資料番号： S0988B  ISSN： 2433-3093  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *白金 ,  *酸化クロム ,  *多層膜 ,  表面磁性 ,  *Hall効果 ,  非線形性 ,  スピン分極 ,  基板 ,  サファイア ,  マグネトロンスパッタリング ,  スパッタ蒸着 ,  フォトリソグラフィー ,  微細加工 ,  電気抵抗 ,  依存性 ,  膜厚 ,  吸収端 ,  磁気円二色性 ,  直流マグネトロンスパッタリング ,  Hall抵抗 ,  サファイア基板 ,  表面磁化 ,  膜厚依存性 ,  鉱石 ,  宝石
準シソーラス用語： XMCD【スペクトル】

分類 (1件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

タイトルに関連する用語 (7件)： PT ,  Cr2O3 ,  積層膜 ,  非線形 ,  ホール効果 ,  X線 ,  MCD