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J-GLOBAL ID：201802253233114682   整理番号：18A1810905

AMS-RF試験品質 欠陥の重症度の評価【JST・京大機械翻訳】

AMS-RF test quality: Assessing defect severity.

著者 (3件)： Guiterrez Valentin (CSIC-Universidad de Sevilla, Instituto de Microelectronica de Sevilla, Av. Americo Vespucio s/n, Sevilla, 41092, Spain) ,  Gines Antonio (CSIC-Universidad de Sevilla, Instituto de Microelectronica de Sevilla, Av. Americo Vespucio s/n, Sevilla, 41092, Spain) ,  Leger Gildas (CSIC-Universidad de Sevilla, Instituto de Microelectronica de Sevilla, Av. Americo Vespucio s/n, Sevilla, 41092, Spain)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IOLTS  ページ： 23-28  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 安全性の重要な応用において,厳しい品質レベルを満たすために欠陥被覆率を推定する要求がある。しかし,複雑なAMS-RF回路の欠陥シミュレーションは,良好な信頼区間を達成するために多くの欠陥をサンプリングする必要があるため,計算的に高価である。本論文において,著者らは,故障範囲によって欠陥範囲を補完するために有益である可能性がある研究の実用的事例に関して示して,欠陥脱出の重大性を評価して,試験品質の完全な画像を得た。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 被覆率 ,  安全性 ,  故障 ,  *重症度診断 ,  品質水準 ,  シミュレーション ,  画像 ,  *品質 ,  信頼区間

分類 (3件)： 音声処理  (JE05000E) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： AMS ,  RF ,  試験 ,  欠陥 ,  重症度の評価