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J-GLOBAL ID：201802253266223707   整理番号：18A1564867

フレキシブル有機トランジスタの曲げ変形による性能劣化モードのその場観察

著者 (4件)： 宍戸信之 (北九州市環境エレクトロニクス研) ,  末松祐一 (名古屋工大) ,  泉隼人 (名古屋工大) ,  神谷庄司 (名古屋工大)
資料名： 日本機械学会年次大会講演論文集(CD-ROM)  (日本機械学会年次大会(CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.J2210203  発行年： 2017年09月02日 
JST資料番号： X0587C  ISSN： 2424-2667  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 印刷技術によって製作される有機半導体デバイスは,その形状変化に富む特徴を活かして屈曲変形を伴った利用環境での応用が期待されるが,屈曲変形に強い実用性のあるデバイスを設計・製作するためには,その機能を損なう変形の限界点を知ることが不可欠である。本研究では,曲げ試験と走査型電子顕微鏡観察とを連携させて,性能劣化挙動とトランジスタ部の損傷との関係を調査した。結晶性を有する小分子半導体diF-TES-ADTが,ひずみの負荷とともにその結晶粒構造に依存して破壊が進行し,電気特性を劣化させていることを示唆する結果を得た。(著者抄録)

シソーラス用語： *FET【トランジスタ】 ,  有機半導体 ,  フレキシブル基板 ,  屈曲度 ,  *曲げ試験 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  結晶粒 ,  *粒界破壊 ,  小分子
準シソーラス用語： 印刷技術 ,  *有機トランジスタ ,  フレキシブルデバイス ,  性能劣化 ,  小分子半導体

分類 (2件)： ゴム・プラスチック材料  (HC04030W) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 有機トランジスタ ,  曲げ変形 ,  性能劣化 ,  その場観察