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J-GLOBAL ID:201802253540209392   整理番号:18A0845148

リチウムドープ黒リントランジスタにおける最適化輸送特性【JST・京大機械翻訳】

Optimized Transport Properties in Lithium Doped Black Phosphorus Transistors
著者 (6件):
資料名:
巻: 39  号:ページ: 769-772  発行年: 2018年 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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低い接触抵抗を達成することは,電子およびオプトエレクトロニクス応用の両方に対する黒リン(BP)トランジスタの主要な課題の一つである。ここでは,2から0.85kΩμmへの接触抵抗を大幅に低減し,出力電流とオン/オフ比の2.5倍以上の改善をもたらす,新規で実現可能なリチウムドーピング技術を実証した。これは,主にリチウムビス(トリフルオロメチルスルホニル)-イミドによる高い正孔ドーピング密度に起因し,それはソース端におけるより狭いキャリア注入障壁をもたらす。300と20Kでの接触ドーピングによるBP電界効果トランジスタのオン/オフ比は,それぞれ432と7.2×10~5である。また,20Kにおいて0.56μmのチャネル長を有する773μA/μmの高いドレイン電流を実証した。ドーピング技術は,BPトランジスタの全体性能を改善する有効な方法を提供する。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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半導体集積回路  ,  トランジスタ 

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