文献

J-GLOBAL ID：201802254601180297   整理番号：18A0507917

BEMDおよびPCAに基づく干渉イメージング分光計におけるDefringing【Powered by NICT】

Defringing in interference imaging spectrometer based on BEMD and PCA

著者 (8件)： Ren Wenyi (School of Science, Northwest A&F University, Yangling 712100, China) ,  Wu Dan (College of Mechanical and Electronic Engineering, Northwest A&F University, Yangling 712100, China) ,  Yang Guoan (School of Electronic and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Jiang Jiangang (School of Science, Northwest A&F University, Yangling 712100, China) ,  Xie Yingge (School of Science, Northwest A&F University, Yangling 712100, China) ,  Du Guangyuan (School of Science, Northwest A&F University, Yangling 712100, China) ,  Wang Guodong (School of Science, Northwest A&F University, Yangling 712100, China) ,  Zhang Sheqi (School of Science, Northwest A&F University, Yangling 712100, China)
資料名： Optik  (Optik)
巻： 157  ページ： 1027-1034  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エタロン効果に起因する建設的及び破壊的な干渉縞を,背面照明したCCDを用いたイメージングシステムに発生する普遍的な現象である。二次元経験的モード分解(BEMD)と主成分分析(PCA)に基づく適応法は干渉イメージング分光計における非線形干渉縞を抑制するために提案した。実現可能性は干渉イメージング分光計で得られた干渉縞と干渉図形を再構成する効果的に検証した。一方,垂直CCDモザイクストライプは明らかに抑制された。回収した汚染と補正されたスペクトルを比較して,非線形背景によって導入されたサイドローブを除去したことが分かった。defringingのための時間節約,事前知識なしに,自動アプローチを提供する。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： スペクトル ,  主成分分析 ,  エタロン ,  サイドローブ ,  干渉縞 ,  再構成 ,  二次元 ,  照明 ,  *干渉 ,  *分光計
準シソーラス用語： 事前知識 ,  インターフェログラム ,  経験的モード分解 ,  イメージングシステム ,  *画像分光計 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 干渉結像分光計 ,  フリンジ解析 ,  経験的モード分解 ,  非線形信号処理

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (3件)： PCA ,  干渉 ,  イメージング分光計