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J-GLOBAL ID：201802254818894080   整理番号：18A1287888

原子間力顕微鏡 組織工学における足場設計をアドレスする強力なツール【JST・京大機械翻訳】

Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool to Address Scaffold Design in Tissue Engineering

著者 (3件)： Marrese Marica (Faculty of Sciences, Biophotonics and Medical Imaging group and Laser Lab, VU University Amsterdam, De Boelelaan 1081 HV Amsterdam, The Netherlands) ,  Guarino Vincenzo (Institute of Polymers, Composites and Biomaterials, National Research Council of Italy, V.le Kennedy 54, Pad 20, Mostra d’Oltremare, Naples 80125, Italy) ,  Ambrosio Luigi (Institute of Polymers, Composites and Biomaterials, National Research Council of Italy, V.le Kennedy 54, Pad 20, Mostra d’Oltremare, Naples 80125, Italy)
資料名： Journal of Functional Biomaterials (Web)  (Journal of Functional Biomaterials (Web))
巻： 8  号： 1  ページ： 7  発行年： 2017年 
JST資料番号： U7217A  ISSN： 2079-4983  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 機能性高分子は,現在,分子放出,組織工学,バイオセンシングおよび医用画像を含む広範囲の生物学的および生物医学的応用の基本的成分を代表している。これらの分野における進歩は,制御された物理的および生物的相互作用特性を有する広範囲の生分解性高分子の使用によって駆動される。この文脈において,原子間力顕微鏡(AFM)のような顕微鏡技術は,生体材料の物理化学的性質と生物学的応答の間の時間的関係を評価するために,ミクロおよびサブミクロンスケールでの形態および構造特性を深く調べるための基本的ツールとして出現している。特に,AFMは表面トポグラフィーをスクリーニングするための単なるツールではなく,表面及び界面特性を理解するための重要な寄与を提供し,ミクロ及びナノスケールにおける生体材料の性能,プロセス,物理的及び化学的性質の最適化につながる。これは,力曲線を通して表面力を測定するために原子間力分光法のようなソフト物質に適用されるナノ技術における最近の発見を活用することによって可能である。チップ-試料局所相互作用により,弾性,粘弾性,表面電荷密度および濡れ性のようないくつかの情報を収集することができる。本論文では,異なる形態(すなわち,繊維,膜または粒子)における高分子デバイスの特性化に関して,操作モードにおける差異,進歩したツールの実装および生体材料科学におけるそれらの最近の応用によるAFM技術およびイメージング技術における最近の進展を概観した。Copyright 2018 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： バイオセンサ ,  *顕微鏡 ,  最適化 ,  医用画像 ,  ナノテクノロジー ,  *原子間力顕微鏡 ,  キャラクタリゼーション ,  弾性 ,  *生体組織工学 ,  形態 ,  粘弾性 ,  構造特性
準シソーラス用語： ナノスケール ,  生体材料 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (9件)： 原子間力顕微鏡(AFM) ,  導電性AFM ,  熱分析 ,  位相イメージング ,  ナノインデンテーション ,  力分光法 ,  電気紡糸繊維 ,  フィルム ,  マイクロ/ナノ粒子

分類 (2件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

引用文献 (111件)：

• Knoll, M.; Ruska, E. Contribution to geometrical electron optics (in German). Ann. Phys. 1932, 5, 607-661.
• Binnig, G.; Quate, C.F.; Gerber, C. Atomic Force microscope. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 885.
• Alessandrini, A.; Facci, P. AFM: A versatile tool in biophysics. Sci. Technol. 2005, 16, 65-92.
• Binnig, G.; Gerber, C.; Stoll, E. Atomic resolution with atomic force microscope. Europhys. Lett. 1997, 3, 1281-1286.
• Egerton, R.F. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AFM; Springer: New York, NY, USA, 2008.

タイトルに関連する用語 (5件)： 原子間力顕微鏡 ,  組織工学 ,  足場 ,  設計 ,  ツール