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J-GLOBAL ID：201802255108156032   整理番号：18A0448588

手術下のヘリックス進行波管の遅波構造のための完全熱分析【Powered by NICT】

Full thermal analyses for slow-wave structure in helix-TWT under operation

著者 (10件)： Zhang Jin (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Yuan Huiyu (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Zhao Xingqun (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Bai Ningfeng (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Shen Changsheng (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Fan Hehong (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Sun Xiaohan (Research Center for Electronic Device & System Reliability, Southeast University Nanjing, China) ,  Chen Bo (Beijing Vacuum Electronics Research Institute, Beijing, China) ,  Feng Jinjun (Beijing Vacuum Electronics Research Institute, Beijing, China) ,  Yan Tiechang (Beijing Vacuum Electronics Research Institute, Beijing, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IVEC  ページ： 1-2  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 動作下で進行波管(TWT)の遅波構造に沿った温度分布と熱変形を解析した。一連の熱損失の,ヘリックス上の電子衝突,ヘリックス及びバレルの表面に渦電流損失,と減衰器における電磁場損失を考慮して,CST MPhysicsスタジオを用いた進行波管の遅波構造のための完全熱的状態を解析した。シミュレーション結果は,高温領域は,高度に幾何学的変形が生成されるヘリックスの最後の15 20ターンに集中すると,0.0157mmのピーク変形値と出力窓の内部導体に発生する同じ変形を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 渦電流損 ,  電磁場 ,  電子衝突 ,  熱変形 ,  温度分布 ,  *進行波管 ,  シミュレーション ,  熱損失 ,  *熱分析 ,  減衰器
準シソーラス用語： *遅波構造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子管,放電管  (NC02020D)

タイトルに関連する用語 (5件)： 手術 ,  ヘリックス ,  進行波管 ,  遅波構造 ,  熱分析