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J-GLOBAL ID：201802255293744931   整理番号：18A0755238

高信頼性と短チャネルIGZO TFTを用いた内部ゲートICを用いた55”4K UHD OLEDTVの開発【JST・京大機械翻訳】

Development of 55” 4K UHD OLED TV employing the internal gate IC with high reliability and short channel IGZO TFTs

著者 (5件)： Noh Ji Yong (OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea) ,  Han Dong Min (OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea) ,  Jeong Woo Cheol (OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea) ,  Kim Jong Woo (OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea) ,  Cha Soo Youle (OLED TV Panel Center, LG display Co., Paju, South Korea)
資料名： Journal of the Society for Information Display  (Journal of the Society for Information Display)
巻： 26  号： 1  ページ： 36-41  発行年： 2018年 
JST資料番号： B0996B  ISSN： 1071-0922  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,内部ゲートドライバIC(GIP回路)を使用するための酸化物TFTバックプレーン技術について,55「4K OLEDTVパネル」を用いて検討を行った。GIP回路に対して,高信頼性酸化物TFT,特に100時間の長期間のPBTSストレス下でのΔ0.4VのVth劣化と狭いベゼル用の短チャネル長TFT(L=4.5)を開発し,高信頼性で短チャネルIGZO TFTを用いた内部ゲートICを用いた4K OLEDTVを実証した。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 酸化物 ,  *信頼性 ,  パネル
準シソーラス用語： バックプレーン ,  ドライバIC ,  *酸化インジウム・ガリウム・亜鉛 ,  *短チャネル ,  *高信頼性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (7件)： 酸化物半導体 ,  OLEDTV ,  ゲートドライバIC ,  GIP ,  IGZO ,  信頼性 ,  短チャネルTFT

分類 (2件)： 表示機器  (NC06030Q) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高信頼性 ,  短チャネル ,  IGZO ,  TFT ,  ゲート ,  IC ,  開発