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J-GLOBAL ID:201802256142770473   整理番号:18A0116514

鉛フリー銅合金鋳物およびその結晶化物質のCu2SとBiの腐食挙動

Corrosion Behavior of Lead-Free Copper Alloy Castings and Their Crystallized Substances of Cu2S and Bi
著者 (6件):
資料名:
巻: 58  号: 12  ページ: 1679-1686(J-STAGE)  発行年: 2017年 
JST資料番号: G0668A  ISSN: 1345-9678  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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3.0質量%NaCl水溶液中の鉛フリーCu合金(日本工業規格(JIS)CAC411とCAC901)及びその結晶化物(Cu2S及びBi)の腐食挙動を,Cu合金(JIS CAC406),その結晶化物質(Pb)粒子,結晶化していないCu合金(JIS CAC403)の比較を行った。Cu2S粉末を焼結してCu2S試料を作製し,Cu基板上にBi電気めっきを行ってBi試料を作製した。CAC411,CAC901,およびCAC403の測定された腐食電位は,Cuの代わりにSnのものに近かった。最も高いSn濃度であるCAC403の腐食電位付近の電流密度ピークは,他のCu合金と比較して最大であった。逆に,Ag/AgClに対する-0.20Vを超える全てのCu合金について示された電流密度の急激な増加は,Cuのそれと同様であった。Cu2Sは,陽極反応の間にCuSに変換された。そのためCu合金の電流密度のこれらの増加はCuマトリックスの溶解によるものであると結論した。しかし,Cu2Sの腐食電位はCuとCAC411の腐食電位よりも高かった。したがって,CAC411中のCu2S粒子は陰極サイトとして作用し,自然腐食中も安定したままであると結論づけた。Biの腐食電位は,CAC901の腐食電位よりも高く,Cuの腐食電位よりもわずかに低かった。さらに,Ag/AgClに対する-0.10V未満の電位では,Biは,腐食からBiを保護することが期待されるBi2O3の不動態皮膜で覆われていると考えられた。したがって,CAC901のBi粒子は腐食に殆ど影響を受けないと結論された。Pbの腐食電位は,CAC406に期待されるCuとCu合金の腐食電位よりも低かった。また,Pbは,大きな陽極電流密度を示し,Cuの腐食電位付近で活発に溶解した。したがって,Pb粒子はガルバニック腐食のためにCAC406の腐食中に優先的に溶解すると結論した。最終的に,CAC411とCAC901中のCu2SとBi粒子は,海水のような塩化物含有水溶液中のCAC406中のPb粒子よりも苛酷な腐食をほとんど受けないと結論付けた。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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腐食 
引用文献 (26件):
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