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J-GLOBAL ID：201802256326939738   整理番号：18A0827061

TIARA(イオン照射研究施設)におけるマイクロビームPIXE(粒子励起X線放出)システムでの重元素に対する分析感度の較正

Calibration of Analytical Sensitivity for Heavy Elements on Micro Beam PIXE System in TIARA

著者 (5件)： IWATA Y. (Akita Univ.) ,  YAMADA N. (QST) ,  KOKA M. (QST) ,  SATOH T. (QST) ,  KAMIYA T. (QST)
資料名： 量子科学技術研究開発機構資料(Web)  (QST-M (Web))
号： 2  ページ： 187 (WEB ONLY)  発行年： 2017年03月 
JST資料番号： U1319A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (12件)： イオン照射 ,  研究 ,  施設 ,  マイクロビーム ,  PIXE ,  励起 ,  X線 ,  放出 ,  重元素 ,  分析 ,  感度 ,  較正