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J-GLOBAL ID:201802256629336351   整理番号:18A1678125

走査電子顕微鏡画像からの集積回路レイアウトのセグメンテーション【JST・京大機械翻訳】

Segmentation of Integrated Circuit Layouts from Scan Electron Microscopy Images
著者 (4件):
資料名:
巻: 2018  号: CCECE  ページ: 1-4  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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集積回路(IC)の逆エンジニアリングのためのレイアウトの抽出における最も重要なステップの一つは,走査電子顕微鏡(SEM)画像からワイヤとビアの画像セグメンテーションである。このセグメンテーションは,単一IC,画像雑音,およびアーチファクトに対する画像データのギガバイトにより困難である。既存のアプローチは,画像強度閾値ベースの方法に依存するが,セグメンテーションにおける誤りを修正するために,かなりの量の手動ユーザ相互作用を必要とする。本論文では,SEM画像からICレイアウトを分割するための画像処理パイプラインについて述べた。このパイプラインは画像正規化,画像前処理,セグメンテーションを含む。セグメンテーション結果を,カスタム構築比較ツールを用いて比較した。結果は,正しいフィルタ/方法選択によって,すべてのテストした画像セットのための分割の精度における増加を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
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医用画像処理  ,  NMR一般  ,  図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (3件):
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