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J-GLOBAL ID：201802257496580339   整理番号：18A0092932

邪魔者ノイズを利用した1分子計測-電子素子内の雑音発生機構から生まれた新技術

著者 (1件)： 赤井恵 (大阪大 大学院工学研究科)
資料名： 化学  (Chemistry)
巻： 73  号： 2  ページ： 47-51  発行年： 2018年02月01日 
JST資料番号： F0095A  ISSN： 0451-1964  CODEN： KAKYAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ノイズは何から発生するのか,ノイズの発生を抑制することは可能なのか,筆者は究極の材料の基本へと目を向け,分子レベルのナノ材料に発生するノイズの起源を探った。ノイズを利用した1分子計測(単層カーボンナノチューブに吸着させたたった一つの分子から発生したノイズの検出に成功),電子素子内のノイズ,単一分子の挙動から得られる情報,分子ノイズを利用した確率共鳴素子,分子の揺らぎを利用した新しい次世代計算パラダイムへ,について述べた。

シソーラス用語： *計測 ,  *固体素子 ,  *雑音 ,  機構 ,  雑音発生 ,  単層カーボンナノチューブ ,  吸着 ,  分子 ,  共鳴 ,  ゆらぎ
準シソーラス用語： *一分子計測 ,  *電子素子 ,  発生機構 ,  *ノイズ ,  ノイズ発生 ,  吸着分子 ,  確率共鳴 ,  ランダムテレグラフノイズ ,  ランダムテレグラフシグナル

分類 (2件)： 分子構造と性質の実験的研究  (CB01020I) ,  分子の性質一般  (BH05031D)

タイトルに関連する用語 (4件)： ノイズ ,  1分子計測 ,  電子素子 ,  雑音発生