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J-GLOBAL ID：201802258033535271   整理番号：18A0848417

Millerプラトー幅によるIGBTのオンライン接合温度抽出とエージング検出【JST・京大機械翻訳】

Online junction temperature extraction and aging detection of IGBT via Miller plateau width

著者 (7件)： Liu Jingcun (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Zhang Guogang (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Chen Qian (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Qi Lu (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Qin Zheng (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Wang Jianhua (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Geng Yingsan (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： APEC  ページ： 2813-2820  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： IGBTターンオフ過程中のMillerプラトーの幅は温度に敏感で,オンライン接合温度監視に適している。本論文では,このパラメータを検出するオンライン測定システムをゲートドライバ側で達成した。3つの既存のパラメータの比較によって,実用化のためのMillerプラトー幅を用いる利点を検討した。加速エージング試験を行い,Millerプラトー幅の進展を決定し,全寿命の間の方法の有効性を検証した。結果は,結合線劣化が進展し,接合温度がエージング過程で上昇するので,Millerプラトー幅は減少し,オン状態電圧と逆に変化することを示した。したがって,Millerプラトー幅は,IGBTのオンラインエージング検出と残存寿命予測のための指標として提案される。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電圧 ,  ターンオフ ,  予測 ,  計測システム ,  *IGBT ,  余寿命
準シソーラス用語： オン状態 ,  *接合温度 ,  *オンライン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (4件)： IGBT ,  オンライン ,  接合温度 ,  エージング