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J-GLOBAL ID：201802258892729884   整理番号：18A0319955

浸漬試験:加速器で使用されるクライストロンの急速カソード活性評価

Dip test: Rapid cathode activity evaluation of the klystron used in an accelerator

著者 (8件)： ZAIB U. N. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  ZAIB U. N. (Univ. Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  FUKUDA S. (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Tsukuba, JPN) ,  WANG Q. Y. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  SUN Y. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  MA X. P. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  ZHOU Z. S. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  PEI G. X. (Inst. of High Energy Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN)
資料名： Progress of Theoretical and Experimental Physics (Web)  (Progress of Theoretical and Experimental Physics (Web))
巻： 2017  号： 11  ページ： WEB ONLY  発行年： 2017年11月 
JST資料番号： U0548A  ISSN： 2050-3911  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最近の加速器では,ラジオ周波数(RF)は重要な技術であり,クライストロンは最も好まれるRF装置である。クライストロンは高価格であり,入手は1年かかるので,適切なメンテナンス作業が定期的課題である。特に,クライストロンのカソード活性の測定による寿命評価はクライストロンの長期使用後,クライストロンは劣化するので加速器運転にとって重要である。使用される標準的方法はヒータ電圧の関数(Miranプロット)としてカソード放出電流を測定することであるが,放出特性の完全な曲線を得るために数時間がかかり,大規模加速器にとって厳しい作業である。この論文では,中国での高エネルギー物理学研究所の北京電子-陽電子コライダ(BEPCII)リングクライストロンとBEPC入射器線形加速器における急速カソード評価として浸漬試験法を記述した。この方法はカソードへの高電圧印加下で残った高電圧でフィラメント出力サイクルの短い間隔から放出ディップを測定し,カソード活性を評価し,カソード劣化に関連づけた。連続波クライストロンでは,オフ-オン時間に対して10秒間隔,およびパルスクライストロンでは,40秒間隔が浸漬試験を実行するために十分であった。それゆえ,その速さや簡潔さによりこの方法を使用する際に多くの利点がある。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *クライストロン ,  *カソード ,  *加速器 ,  活性 ,  浸漬 ,  線形加速器 ,  衝突検出器 ,  電流 ,  周波数
準シソーラス用語： RF波 ,  コライダ検出器 ,  放出電流

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験技術一般  (BE01010F)

引用文献 (14件)：

• K. Nakao, S. Fukuda, H. Katagiri, T. Matsumoto, S. Michizono, T. Takenaka,Y.Yano, and M.Yoshida, Proc. PAC2005, Knoxville, TN, United States, p. 3235 (2005).
• M. G. Bodmer, IRE Trans. Electron Device (Experimental Note and Techniques Section), ED-5, 43 (1958).
• A. S. Gilmour Jr., Principles of TravelingWave Tubes (London: Artech House, Inc., 1994).
• R. T. Longo, Technical Digest, Int. Electron Devices Meeting, p. 467 (1980).
• R. Vaughan, IEEE Trans. Electron Devices, ED-33, 1925 (1986).

タイトルに関連する用語 (6件)： 浸漬試験 ,  加速器 ,  クライストロン ,  カソード ,  活性 ,  評価