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J-GLOBAL ID:201802261397748206   整理番号:18A1597217

低貯蔵とテストアプリケーション時間オーバーヘッドを用いた自律マルチサイクル試験【JST・京大機械翻訳】

Autonomous Multicycle Tests With Low Storage and Test Application Time Overheads
著者 (1件):
資料名:
巻: 37  号:ページ: 1881-1892  発行年: 2018年 
JST資料番号: B0142C  ISSN: 0278-0070  CODEN: ITCSDI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,自律マルチサイクル試験と呼ばれる新しいタイプのマルチサイクルテストを定義した。多サイクル走査ベース試験と同様に,自律的多サイクル試験は,欠陥検出を強化し,試験圧密を達成するために,いくつかの連続した機能的捕獲サイクルを含む。マルチサイクルスキャンベーステストとは異なり,自律的多サイクルテストセットはすべてのテストに対して同じ初期状態を使用する。テストの機能的捕捉サイクルの間,一次入力は一次出力により駆動され,回路は自律的に動作する。テストは,最初の一次入力ベクトルに対してのみスキャン操作を使用し,一次入力と出力の間の接続を決定する。それは,最終一次出力ベクトルに対してのみ走査アウト操作を使用する。これにより,走査ベース試験と比較して,貯蔵要求と試験適用時間に関連したオーバーヘッドの低減と,本論文で議論したいくつかのユニークな特性を得た。本論文では,逐次テスト生成を回避する自律マルチサイクル試験のためのテスト生成手順について述べ,ターゲット故障を検出する試験の能力を実証するための実験結果を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
集積回路一般  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 

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