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J-GLOBAL ID：201802261416883157   整理番号：18A1790758

太陽電池モジュールの電位誘起劣化試験と回復試験後の窒化ケイ素膜表面におけるナトリウム分布

Sodium distribution at the surface of silicon nitride film after potential-induced degradation test and recovery test of photovoltaic modules

著者 (10件)： OHASHI Fumitaka (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  MIZUNO Yoshiki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  YOSHIDA Hiroki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  KOSUGA Hiroya (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  FURUYA Taishi (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  FUSEYA Ryo (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  FREITAS Ruben Jeronimo (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  HARA Yukiko (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  MASUDA Atsushi (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  NONOMURA Shuichi (Gifu Univ., Gifu, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57  号： 8S3  ページ： 08RG05.1-08RG05.6  発行年： 2018年08月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *太陽電池 ,  *回復試験 ,  劣化 ,  窒化ケイ素 ,  ナトリウム ,  *マイグレーション【化学物質】 ,  X線光電子分光法 ,  走査電子顕微鏡 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  原子間力顕微鏡 ,  *劣化試験 ,  導電性原子間力顕微鏡
準シソーラス用語： *太陽電池モジュール ,  PID ,  交差指電極

分類 (2件)： 太陽電池  (NC03084O) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (35件)：

• C. Peike, T. Kaltenbach, K.-A. Weiß, and M. Koehl, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 95, 1686 (2011).
• M. D. Kempe, G. J. Jorgensen, K. M. Terwilliger, T. J. McMahon, C. E. Kennedy, and T. T. Borek, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 91, 315 (2007).
• T. Roth, R. Siebert, and K. Meyer, Energy Procedia 55, 504 (2014).
• M. Heimann, R. Bakowskie, M. Köhler, J. Hirsch, M. Junghänel, A. Hussack, and S. Sachert, Energy Procedia 55, 456 (2014).
• A. Ndiaye, A. Charki, A. Kobi, C. M. F. Kébé, P. A. Ndiaye, and V. Sambou, Sol. Energy 96, 140 (2013).

タイトルに関連する用語 (8件)： 太陽電池モジュール ,  電位 ,  誘起 ,  劣化試験 ,  回復試験 ,  窒化ケイ素膜 ,  ナトリウム ,  分布