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J-GLOBAL ID：201802262108090827   整理番号：18A1244108

小企業で開発された半導体光学終点検出ソフトウェアシステムの連続放出に関する信頼性【JST・京大機械翻訳】

Reliability over consecutive releases of a semiconductor Optical Endpoint Detection software system developed in a small company

著者 (3件)： Abuta Eric (Verification and Validation Group, Verity Instruments, Inc., Carrollton, Texas, USA) ,  Tian Jeff (Computer Science and Engineering Department, Southern Methodist University, Dallas, Texas, USA) ,  Tian Jeff (School of Computer Science, Northwestern, Polytechnical University, Xi’an, Shaanxi, China)
資料名： Journal of Systems and Software  (Journal of Systems and Software)
巻： 137  ページ： 355-365  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0845B  ISSN： 0164-1212  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 複数のソフトウェアリリースを通してソフトウェア信頼性を実証することは,著しくエンドユーザの特性化されたプロセスとソフトウェア品質基準に影響を与えることなく,高度化ソフトウェアリリースの情報化された決定を行う上で不可欠になっている。典型的な小型ソフトウェア開発組織で通常収集される標準欠陥と作業負荷データをこの目的のために使用することができる。これらの組織のほとんどは,ソフトウェア信頼性工学が成功裏に適用されている大きな商業ソフトウェア組織とは著しく異なる,限られた資源とデータ利用可能性を有する攻撃的なスケジュールの下にある。トレンド試験,入力領域信頼性モデル(IDRM)およびソフトウェア信頼性成長モデル(SRGM)を,半導体光学エンドポイント検出(OED)ソフトウェアシステム上で用いて,その全体的傾向および安定性を調べ,システムの運用信頼性を評価し,多重放出にわたる信頼性成長を追跡した。また,これらの技術は,連続欠陥がこのソフトウェアシステムのために時間とともに実質的にソフトウェア信頼性を増加させるという証拠を提供した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ソフトウェア ,  *半導体 ,  キャラクタリゼーション ,  ソフトウェア開発 ,  多重化 ,  終点検出 ,  *信頼性
準シソーラス用語： エンドポイント ,  成長モデル ,  信頼性モデル ,  情報化 ,  ソフトウェア品質 ,  エンドユーザ ,  ソフトウェア信頼性 ,  ソフトウェアシステム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 信頼性 ,  半導体ソフトウェア ,  試験 ,  欠陥解析 ,  ソフトウェアバージョンとリリース

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (6件)： 企業 ,  開発 ,  光学 ,  終点検出 ,  ソフトウェアシステム ,  放出