Yamada Kodai について
Kyoto Insititute of Technology, Graduate School of Science & Technology, Kyoto Insititute of Technology, Kyoto, Japan について
Maruoka Haruki について
Kyoto Insititute of Technology, Graduate School of Science & Technology, Kyoto Insititute of Technology, Kyoto, Japan について
Furuta Jun について
Kyoto Insititute of Technology, Graduate School of Science & Technology, Kyoto Insititute of Technology, Kyoto, Japan について
Kobayashi Kazutoshi について
Kyoto Insititute of Technology, Graduate School of Science & Technology, Kyoto Insititute of Technology, Kyoto, Japan について
IEEE Conference Proceedings について
重イオン照射 について
中性子 について
積層構造 について
トランジスタ について
重イオン について
NMOS構造 について
ソフトエラー について
ソフトエラー率 について
デバイスシミュレーション について
FDSOI について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
半導体集積回路 について
FDSOI について
プロセス について
積層構造 について
評価 について
NMOS について
PMOSトランジスタ について
ソフトエラー について
感度 について