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J-GLOBAL ID:201802263617721163   整理番号:18A1008203

微結晶GaP/Si超格子作製のための低温プラズマ増強蒸着法【JST・京大機械翻訳】

Low temperature plasma enhanced deposition approach for fabrication of microcrystalline GaP/Si superlattice
著者 (8件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 02D408-02D408-8  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0789B  ISSN: 0734-2101  CODEN: JVTAD6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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微結晶GaP/Si超格子を成長させるプラズマ技術アプローチを調べた。GaPの層は時間変調プラズマ増強蒸着(原子層蒸着法)を用いて成長させたが,Si層は高水素希釈による通常のプラズマ増強化学蒸着モードを用いて成長させた。(3nm)GaP/(2nm)Si超格子をSiおよびGaP基板上に非晶質GaP/Si多層構造の成長とそれに続く450~900°Cでの熱アニーリングまたは400°Cを超えない温度での微結晶GaP/Si超格子の成長により形成した。Ramanスペクトルにおける500cm-1のピークの出現により,薄い2nmのSi層の量子閉じ込め効果を実証した。微結晶GaP/Si構造の非晶質と成長のアニーリング中のSi結晶化とボイド形成における水素挙動の重要な役割を実証した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
半導体薄膜  ,  酸化物薄膜  ,  金属-絶縁体-半導体構造 

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