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J-GLOBAL ID：201802264438097721   整理番号：18A1806787

欠陥診断のための機能テストシーケンスの選択【JST・京大機械翻訳】

Selecting Functional Test Sequences for Defect Diagnosis

著者 (1件)： Pomeranz Irith (School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA)
資料名： IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 26  号： 10  ページ： 2160-2164  発行年： 2018年 
JST資料番号： W0516A  ISSN： 1063-8210  CODEN： ITCOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シミュレーションに基づく設計検証プロセスは,機能テストシーケンスの大きなプールを作り出す。このようなシーケンスは,製造試験や欠陥診断に使用されるとき,いくつかの利点がある。本論文は,目標が欠陥診断のためにシーケンスを使用することであるとき,与えられたプールから機能的テストシーケンスを選択する問題を考察した。本論文で記述した手順は,シーケンスの選択のための故障ユニットの欠陥診断に基づいている。ベンチマーク回路に基づく模擬故障ユニットに対する実験結果は,与えられたプールからシーケンスが欠陥診断に有効である,限られたセットの故障ユニットからの学習の可能性を実証した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 故障 ,  *故障診断 ,  製造試験
準シソーラス用語： ベンチマーク回路 ,  設計検証 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 欠陥診断 ,  テスト ,  シーケンス