文献
J-GLOBAL ID:201802264560513058   整理番号:18A2179491

透過型電子顕微鏡法の基礎と電池材料解析事例

著者 (1件):
資料名:
巻: 86  号: 冬号  ページ: 327-330  発行年: 2018年12月05日 
JST資料番号: G0072B  ISSN: 2433-3255  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
・二次電池の材料特性,充放電・劣化メカニズムを,サブナノからミクロンスケールの実空間で解析する手法として使用される透過型電子顕微鏡法(TEM)について解説。
・試料を出射した電子が散乱角度により分別され,この電子を取捨選択して結像する仕組みを,透過電子と弾性散乱電子に着目して説明。
・TEMと併用して使用される電子エネルギー損失分光法(EELS)では,出射電子が磁場中でローレンツ力を受けて,エネルギー分散スペクトルを表示。
・リチウムイオン電池の正極物質,コバルト酸リチウムの,60%まで充電した際のEELSスペクトルを例示。
・電子線ダメージで,原子の弾き出し,あるいは原子間の化学結合が切断されて,試料の形態や体積,結晶構造,組成が変化。
・電子線ダメージを低減するためには,電子加速電圧を試料により選択し,電流密度を低下。
・TEM解析するためには,電子線が試料を通り抜けるように試料を薄く作製。
・二次電池材料の多くは,空気(酸素)や,水分子に触れることなく,試料作製することが必要。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
顕微鏡法  ,  二次電池 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る