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J-GLOBAL ID：201802264855778983   整理番号：18A1045061

ランダムサンプリング技術による図式レベルでのアナログ故障シミュレーション自動化【JST・京大機械翻訳】

Analog fault simulation automation at schematic level with random sampling techniques

著者 (6件)： Wu Liang (Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany) ,  Hussain Mohammad Khizer (Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany) ,  Abughannam Saed (Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany) ,  Muller Wolfgang (Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany) ,  Scheytt Christoph (Heinz Nixdorf Institute, Paderborn, Germany) ,  Ecker Wolfgang (Infineon Technologies AG, Munich, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： DTIS  ページ： 1-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,故障注入による試験の下での回路の高い故障被覆率を有するランダム故障選択に基づくアナログ故障効果シミュレーション自動化のための方式を提示して,先進的サンプリング技術に基づくシミュレーションを示した。ランダム故障選択は,信頼レベルで回路における異なる電気部品の故障発生の可能性を利用する。故障確率の計算のために,異なるデバイスの欠陥モデルを解析した。実装したツールによる事例研究は,尤度計算と故障シミュレーションが効率的な故障効果シミュレーション自動化の手段を提供することを実証した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 故障率 ,  被覆率 ,  *故障 ,  無作為抽出 ,  *シミュレーション ,  電気部品 ,  *自動化 ,  事例研究 ,  *アナログ系 ,  モデル
準シソーラス用語： 尤度 ,  障害発生 ,  故障注入 ,  *故障シミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： ランダムサンプリング ,  アナログ ,  故障シミュレーション ,  自動化