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J-GLOBAL ID：201802265568499961   整理番号：18A1699156

FT-IRを用いたナイロン6の水素イオン照射による吸光度変化と化学的損傷パラメータ

著者 (8件)： 酒井盛寿 (神大 院) ,  楠本多聞 (量研機構) ,  小平聡 (量研機構) ,  千葉昌寛 (神大 院) ,  濱野拳 (神大 院) ,  金崎真聡 (神大 院) ,  小田啓二 (神大 院) ,  山内知也 (神大 院)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 79th  ページ： ROMBUNNO.20a-224B-5  発行年： 2018年09月05日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ナイロン6 ,  イオン ,  イオン照射 ,  *吸光度 ,  アミン ,  カルボニル化合物 ,  基 ,  *赤外吸収スペクトル ,  伸縮振動【分子】 ,  *収率 ,  *放射線感受性 ,  *照射損傷 ,  アミド基 ,  *放射化学収率
準シソーラス用語： 水素イオン

分類 (2件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  高分子固体の物理的性質  (CG02024U)

タイトルに関連する用語 (6件)： Ir ,  ナイロン6 ,  水素イオン ,  吸光度 ,  化学的損傷 ,  パラメータ