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J-GLOBAL ID:201802267710559589   整理番号:18A0244805

3層アナログ回路の故障診断のための多重カーネル学習モデル【Powered by NICT】

A three layers multiple kernel learning model for analog circuit fault diagnosis
著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: ICEMI  ページ: 47-52  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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マルチカーネル診断モデルの性能を改善するために,極端学習機械(ELM)のための新しい三層マルチカーネル学習(MKL)アルゴリズムは,AdaBoost戦略と半径組み込みMK ELMを組み合わせることにより提示した。,改善されたMK ELMモデルは最小包囲ボール(MEB)の半径を置換全データ散乱行列のトレースと分類誤差を置換重み付き分類誤差により確立した。,改善されたMK ELMモデル,多項式カーネル,LaplaceカーネルおよびGaussカーネルに基づく三段階反復法によって構成される三層適応ブースティングの枠組み。このようにして,提案したフレームワークは,分類器の性能を改善していくに優れた戦略を提供した。実験結果により,このアルゴリズムが四種類の最先端レベルMKLモデルと比較して全体的に最良の診断性能を持つことを示した。具体的には,筆者らのアルゴリズムが半径組み込みMK ELMと同等またはより優れた分類性能を達成することができる,非常に少ない計算コストを招く。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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人工知能  ,  ニューロコンピュータ 
タイトルに関連する用語 (5件):
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