文献

J-GLOBAL ID：201802267854560279   整理番号：18A0190298

PPLNに基づく全光学的リタイミングスイッチのランダム領域長誤差のパターン効果【Powered by NICT】

Pattern effects of random domain length error in PPLN-based all-optical retiming switches

著者 (3件)： Fukuchi Yutaka (Department of Electrical Engineering, Tokyo University of Science 6-3-1 Niijuku, Katsushika-ku, Tokyo 125-8585, Japan) ,  Kimura Tomotaka (Department of Electrical Engineering, Tokyo University of Science 6-3-1 Niijuku, Katsushika-ku, Tokyo 125-8585, Japan) ,  Matsuura Taichi (Department of Electrical Engineering, Tokyo University of Science 6-3-1 Niijuku, Katsushika-ku, Tokyo 125-8585, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MOC  ページ： 284-285  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ランダム領域長誤差を考慮して,PPLNデバイスにおける第二高調波発生と差周波数混合のカスケードを用いた全光学的リタイミングスイッチのスイッチング性能を計算した。誤差は出力を減少させる。誤差パターンの差は波形と出力の信号品質を変化させた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *第二高調波発生

分類 (2件)： 非線形光学  (BD05000T) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (4件)： PPLN ,  光学 ,  リタイミング ,  誤差