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J-GLOBAL ID:201802267875554755   整理番号:18A0580647

照明強度の変動を用いたコロネン中間層によるAl/n-Si Schottkyダイオードにおけるダイオードパラメータの改善【Powered by NICT】

Improvement of diode parameters in Al/n-Si Schottky diodes with Coronene interlayer using variation of the illumination intensity
著者 (5件):
資料名:
巻: 527  ページ: 1-6  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0676B  ISSN: 0921-4526  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,Siウエハ上のコロネン薄膜をスピンコーティング法によって堆積させた。は最終的にAl/Coronene/n Si/In Schottkyダイオードを作製した。電流-電圧(I V)測定は,Schottkyダイオードの照明強度の影響を決定するために用いた。障壁高さ(ΦB)値は理想因子(n)値照明強度の増加と共に減少すると増加した。ΦB値は暗と100mW/cm~2で0.697と0.755eVであることが分かった。n値は暗と100mW/cm~2で2.81および2.07であることが分かった。さらに,電流-電圧測定を用いた改良Norde法と界面状態密度(N_SS)値から直列抵抗(R)値を決定した。Rの値は暗と100mW/cm~2で1924と5094Ωであることが分かった。N_SSの値は暗と100mW/cm~2で4.76×10~12と3.15×10~12eV~ 1cm~ 2であることを明らかにした。ダイオードパラメータは形成されたSchottkyダイオード照明強度の変化を適用することにより改善した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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半導体-金属接触  ,  ダイオード 
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