文献

J-GLOBAL ID：201802271517976873   整理番号：18A0385350

工業メガボルトX線イメージングシステムでのフラットパネルイメージャの性能定量化【Powered by NICT】

Performance quantification of a flat-panel imager in industrial mega-voltage X-ray imaging systems

著者 (5件)： Stritt Carina (Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, Center for X-ray Analytics, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland) ,  Plamondon Mathieu (Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, Center for X-ray Analytics, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland) ,  Hofmann Juergen (Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, Center for X-ray Analytics, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland) ,  Flisch Alexander (Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, Center for X-ray Analytics, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland) ,  Sennhauser Urs (Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, Reliability Science and Technology Laboratory, Ueberlandstrasse 129, 8600 Duebendorf, Switzerland)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 848  ページ： 73-80  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アクティブマトリクスフラットパネル検出器は,それらの速度,分解能と高ダイナミックレンジによるX線イメージングシステムの中で人気を得ている。適切な遮蔽を用いた現代のフラットパネルイメージャは,いくつかのメガ電子ボルト(MeV)までのエネルギーの高エネルギー計算機トモグラフィー(CT)システムに用いることができる。しかし,ディジタル検出器の性能はX線撮影システムの独立ではないが,系の全ての他の成分に依存した。信号と雑音伝達特性をイメージングチェーンのすべてのパラメータに強く依存した。MeV X線イメージングシステムの信号の分解能と雑音を定量化することに焦点を当てた。性能定量は標準エッジ法とイメージングシステムの雑音パワースペクトル(NPS)を用いた変調伝達関数(MTF)を計算することにより行った。測定に対する散乱放射の影響を理解するためにモンテカルロ(MC)シミュレーションを行った。水平および垂直MTFの比較は,検出器のイメージング挙動は等方性であることを示した。,システムの雑音性能の更なる研究は,系に存在する測定可能な雑音相関ではないことを示した。エッジ素子の厚さは得られたシステムMTFに有意な影響を及ぼさないことを示した。視程の急激な低下は50%MTFで1.2線対/mmの値で生じることを観察することができた。線対パターンの可視度限界は10%MTF値により与えられた2.3線対/mmであることが分かった。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： シミュレーション ,  検出器 ,  *画像処理 ,  計算機トモグラフィー ,  光学伝達関数 ,  分解能 ,  *X線画像 ,  可視度 ,  雑音 ,  ラジオグラフィー ,  モンテカルロ法 ,  雑音特性 ,  パワースペクトル ,  ディジタル方式
準シソーラス用語： *イメージングシステム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： X線物理学 ,  X線イメージング ,  MeV X線イメージング ,  モンテカルロシミュレーション ,  変調伝達関数 ,  雑音パワースペクトル

分類 (2件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  素粒子・核物理実験技術一般  (BE01010F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 工業 ,  ボルト ,  X線イメージング ,  定量化