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J-GLOBAL ID:201802271547818620   整理番号:18A1390446

バイオ電気化学反応器における模擬廃水によるKlebsiella michiganensis株LH-2の生存性と対応する抗生物質耐性遺伝子の存在量【JST・京大機械翻訳】

Simulated wastewater reduced Klebsiella michiganensis strain LH-2 viability and corresponding antibiotic resistance gene abundance in bio-electrochemical reactors
著者 (9件):
資料名:
巻: 162  ページ: 376-382  発行年: 2018年 
JST資料番号: A0825B  ISSN: 0147-6513  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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以前の研究は,生物電気化学反応器(BER)における電解刺激プロセスが,栄養培地におけるスルファジアジン(SDZ)抗生物質耐性細菌(ARB)の増殖を加速できることを明らかにした。しかしながら,この過程におけるARBの運命とそれらの対応する抗生物質耐性遺伝子(ARGs)の相対存在量に及ぼす異なる培地栄養豊富度の影響は未知である。特に,最小栄養模擬廃水におけるARBの運命が電解刺激下の栄養液と同じであるかどうかは明確ではない。したがって,本研究では,栄養ブロス培地と模擬廃水を比較し,模擬廃水における菌株の運命と同様に,電解刺激プロセスに応答したKlebsiella michiganensis LH-2 ARGsの相対存在量の違いを同定した。より低いバイオマス,比増殖速度,および実行可能な細菌数を,模擬廃水培地への増加電流の適用に応じて得た。さらに,フローサイトメトリー分析により反映されたARB致死率の割合は培地中の電流と共に増加した。sul遺伝子とintI遺伝子の相対存在量対電流の有意な正の相関も,栄養ブロスで観察された。しかしながら,有意な負の相関が,より高い代謝負荷のために,模擬廃水で観察された。これは,ARB生存率の低下をもたらす可能性がある。さらなる研究は,ARGs豊度の減少が模擬廃水におけるSDZに対する株耐性の減少の原因であることを示した。これらの結果は,最小栄養模擬廃水がBERにおけるARBとARGs伝搬を減少させる可能性があることを明らかにした。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
化学物質の毒性一般  ,  廃水処理  ,  バイオアッセイ  ,  産業廃水処理 

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