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J-GLOBAL ID：201802272292948221   整理番号：18A1898989

伝導擾乱測定システムのEUT接続のモードSパラメータ推定【JST・京大機械翻訳】

Modal S-Parameter Estimation of EUT Connection of Conducted Disturbance Measurement System

著者 (4件)： Wu Ifong (National Institute of Information and Communications Technology (NICT), Electromagnetic Compatibility Laboratory, Tokyo, Japan) ,  Ishigami Shinobu (Department of Electronic Engineering, Tohoku Gakuin University, Miyagi, Japan) ,  Gotoh Kaoru (National Institute of Information and Communications Technology (NICT), Electromagnetic Compatibility Laboratory, Tokyo, Japan) ,  Matsumoto Yasushi (National Institute of Information and Communications Technology (NICT), Electromagnetic Compatibility Laboratory, Tokyo, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： EMC Europe  ページ： 23-241  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 実施した外乱測定システムの試験(EUT)接続下での装置の入出力ポートのモードSパラメータを決定する方法を検討した。EUT接続の入力端子の構造はAC電力プラグ自体であるので,EUT接続の入力ポートにおけるモードSパラメータはベクトルネットワークアナライザ(VNA)で直接測定できない。モードSパラメータを測定するために,EUT接続をAC-SMAアダプタを通して測定する必要がある。AC-SMAアダプタの効果を除去し,EUT接続の未知のモードSパラメータを推定するために,AC-SMAアダプタとのEUT接続を,オープン,短,および50Ωマッチングで終了させた。これらの測定結果から,EUT接続の入出力ポートのモードSパラメータを推定した。その結果,入出力ポートのモードSパラメータは全く異なる。したがって,EUT接続の入出力ポートの構造の違いによるモードSパラメータの影響は無視できない。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 計測システム ,  プラグ ,  マッチング ,  *アダプタ
準シソーラス用語： 直接測定 ,  ベクトルネットワークアナライザ ,  *Sパラメータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 伝導 ,  擾乱 ,  測定システム ,  Sパラメータ ,  推定