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J-GLOBAL ID:201802272307651299   整理番号:18A1932681

Siドープβ-Ga_2O_3のハロゲン化物気相エピタクシーとその電気的性質【JST・京大機械翻訳】

Halide vapor phase epitaxy of Si doped β-Ga2O3 and its electrical properties
著者 (15件):
資料名:
巻: 666  ページ: 182-184  発行年: 2018年 
JST資料番号: B0899A  ISSN: 0040-6090  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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前駆体として塩化ガリウム,酸素および四塩化ケイ素ガスを用いたハロゲン化物気相エピタクシーにより,β-酸化ガリウム(001)基板上にシリコンドープホモエピタキシャル膜を成長させた。室温でのn型キャリア密度はドープしたシリコン濃度にほぼ等しく,10~15~10~18cm-3の範囲で制御されることを確認した。キャリア密度が1×10~16cm~3のドープ膜では,室温での活性化エネルギーと移動度は,それぞれ,4meVと145cm~2/Vであった。低キャリア密度膜におけるキャリア散乱機構は,33meVのフォノンエネルギーをもつ光学フォノン散乱によって支配された。これらの結果は,ハロゲン化物気相エピタクシーによって成長させたドープしたホモエピタキシャル膜が,バルク結晶に匹敵する良好な結晶性を有する高品質の膜であることを示唆している。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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半導体薄膜 
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