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J-GLOBAL ID：201802272510216133   整理番号：18A0231852

チタン合金の陽電子寿命計測およびEBSD計測に基づく疲労損傷評価

著者 (5件)： 仙田知也 (筑波大 大学院) ,  原田祥久 (産業技術総合研) ,  名越貴志 (産業技術総合研) ,  MAO Wenfeng (産業技術総合研) ,  O’ROURKE Brian E. (産業技術総合研)
資料名： 日本機械学会関東支部・精密工学会・茨城大学工学部茨城講演会講演論文集(CD-ROM)
巻： 25th  ページ： ROMBUNNO.902  発行年： 2017年08月29日 
JST資料番号： X0829B  ISSN： 2424-2683  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： チタン合金は高比強度,耐腐食性に優れているため,航空宇宙分野をはじめ様々な産業分野に使用されている。高温高圧状況下では,き裂が急速に進展し破壊に繋がる危険性がある為,き裂発生前の段階で予測する技術が必要とされている。本研究では,疲労損傷を与えたTi-6Al-4Vに対し,電子線後方散乱回折分析(EBSD)を用いた結晶方位差,陽電子消滅寿命法(PALS)を用いた空孔欠陥量との相関を調べることを目的とした。陽電子寿命は疲労損傷の増加とともに長くなり,空孔欠陥量が増える傾向が見られ,疲労損傷と空孔欠陥量には相関関係が見られた。(著者抄録)

シソーラス用語： *寿命 ,  *計測 ,  *チタン合金 ,  *疲れ損傷 ,  *電子回折 ,  *空格子点
準シソーラス用語： *陽電子寿命 ,  *測定法 ,  *EBSD ,  空孔【点欠陥】

分類 (1件)： 金属材料  (HC05020S)

タイトルに関連する用語 (6件)： チタン合金 ,  陽電子寿命 ,  計測 ,  EBSD ,  疲労損傷 ,  評価