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J-GLOBAL ID：201802274273980676   整理番号：18A0391065

パルスサーモグラフィー検査のための非線形システム同定に基づく新しい欠陥深さ測定法【Powered by NICT】

A novel defect depth measurement method based on Nonlinear System Identification for pulsed thermographic inspection

著者 (4件)： Zhao Yifan (The EPSRC Centre for Innovative Manufacturing in Through-life Engineering Services, Cranfield Manufacturing, Cranfield University, Cranfield MK43 0AL, UK) ,  Mehnen Jorn (The EPSRC Centre for Innovative Manufacturing in Through-life Engineering Services, Cranfield Manufacturing, Cranfield University, Cranfield MK43 0AL, UK) ,  Sirikham Adisorn (The EPSRC Centre for Innovative Manufacturing in Through-life Engineering Services, Cranfield Manufacturing, Cranfield University, Cranfield MK43 0AL, UK) ,  Roy Rajkumar (The EPSRC Centre for Innovative Manufacturing in Through-life Engineering Services, Cranfield Manufacturing, Cranfield University, Cranfield MK43 0AL, UK)
資料名： Mechanical Systems and Signal Processing  (Mechanical Systems and Signal Processing)
巻： 85  ページ： 382-395  発行年： 2017年 
JST資料番号： T0514A  ISSN： 0888-3270  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 過剰適合問題に対処することにより,パルスサーモグラフィー検査に基づく欠陥深さ測定の信頼性と信頼水準を改善する新しい方法を紹介した。全画素のための固定モデル構造を用いた既存の方法と異なり,提案した方法は,各画素のための最適モデル構造を検出する,より良いモデル適合を達成するために標的化適応的に少ないモデル項を用いた。数値シミュレーションと実際の実験からの結果は,(a)新しい方法を既存の方法と比較して予め設定されたモデル構造(SNRは32dB以上の誤差は通常1%以内で)より正確に欠陥深さを測定することができ,(b)モデル項の数はSNR<30dBのSNR∈[30dB,40dB,SNR>40dBの8 10と5 8をもつ信号のための8すべきであり,(c)少なくとも100データ点と特性時間の2 3時間データ長は通常最良の結果をもたらすことを示唆する。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *サーモグラフィー ,  ターゲティング ,  信頼性 ,  画素 ,  信頼度
準シソーラス用語： 数値シミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： NDT ,  サーモグラフィ ,  劣化評価 ,  SHM ,  Nonlinearity ,  不確実性

分類 (3件)： 振動の励起・発生・測定  (BB02030Z) ,  振動論  (BB02020O) ,  歯車,歯車装置  (QB01060O)

タイトルに関連する用語 (6件)： パルス ,  サーモグラフィー ,  検査 ,  非線形システム同定 ,  欠陥 ,  測定法