MORISHITA Shigeyuki について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
KOHNO Yuji について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
HOSOKAWA Fumio について
BioNet Lab. Inc., Tokyo, JPN について
SUENAGA Kazu について
National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN について
SAWADA Hidetaka について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
Microscopy について
収差補正 について
非点収差 について
多重極 について
像形成 について
電圧 について
透過型電子顕微鏡 について
グラフェン について
タングステン化合物 について
六重極 について
画像形成 について
加速電圧 について
グラフェンシート について
二硫化タングステン について
電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について
電子ビーム,イオンビーム について
幾何 について
収差補正 について
残留 について
収差 について
評価 について