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J-GLOBAL ID：201802275424886508   整理番号：18A0534551

組織切片におけるCeO_2ナノ粒子の無標識検出のためのマイクロX線蛍光分光法と飛行時間型二次イオン質量分析イメージングの組合せ【Powered by NICT】

Combination of micro X-ray fluorescence spectroscopy and time-of-flight secondary ion mass spectrometry imaging for the marker-free detection of CeO₂ nanoparticles in tissue sections

著者 (9件)： Veith Lothar (Tascon GmbH, Mendelstrasse 17, D-48149 Muenster, Germany. [e-mail]) ,  Dietrich Doerthe ,  Vennemann Antje ,  Breitenstein Daniel ,  Engelhard Carsten ,  Karst Uwe ,  Sperling Michael ,  Wiemann Martin ,  Hagenhoff Birgit
資料名： Journal of Analytical Atomic Spectrometry  (Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻： 33  号： 3  ページ： 491-501  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0770C  ISSN： 0267-9477  CODEN： JASPE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 組織と関連効果におけるナノ粒子分布の記述は,ナノ毒性学の重要な目標である。三次元飛行時間型二次イオン質量分析(3D ToF SIMS)はナノ粒子分布のための組織切片を解析し,高空間分解能で有機および無機分子種を同時に検出するための有望な無標識法である。ToF-SIMS3次元イメージングへアクセス可能な試料領域はいくつかの百平方μmに限定されているとして,ナノ粒子を含む領域の適切な選択が必須である。マイクロX線蛍光分析(μ XRF)は,マイクロメータ領域の横方向分解能をもつ大きな組織切片の非破壊,迅速元素分析を提供する。後者の技術は,試料をスクリーニングするためと同様にToF-SIMS3次元解析からの元素分布画像を確認するのに用いた。特に,CeO_2ナノ粒子(10 200 nm)を含む不均一肺からの凍結切片は,μ-XRFと反射光顕微鏡を受けるCeO_2NPを含む肺組織領域を予備選択した。これらの領域におけるToF-SIMSイメージング分析の横方向分解能(670 nm)は42の因子によるμ-XRFイメージングの横方向分解能を超え,組織構造内のCeO_2NPの横方向分布を明らかにした。さらに,R=4000の質量分解能で同時に得られた更なる二次イオンを試料組成を明らかにした。要約すると,μ-XRFであるナノ粒子含有組織切片の高分解能ToF-SIMS3次元微量分析のための関連組織領域を同定するために非常に適していることを示した。Copyright 2018 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 元素分析 ,  画像 ,  *画像処理 ,  *二次イオン ,  高分解能 ,  三次元 ,  蛍光X線分析 ,  顕微鏡 ,  微量分析 ,  分解能 ,  *ナノ粒子
準シソーラス用語： 元素分布 ,  *無標識 ,  *質量分析イメージング ,  *組織切片 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 金属,合金の物理分析  (CC03040V) ,  質量分析  (CC03013N)

タイトルに関連する用語 (9件)： 組織切片 ,  ナノ粒子 ,  無標識検出 ,  X線 ,  蛍光分光法 ,  飛行時間 ,  イオン ,  質量分析イメージング ,  組合せ