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J-GLOBAL ID:201802277722824624   整理番号:18A2004845

ナノ構造(ZnO)_1-x(CuO)_x複合半導体のX線ピークプロフィル解析【JST・京大機械翻訳】

X-ray Peak Profile Analysis of Nanostructured (ZnO)1-x(CuO)x Composite Semiconductor
著者 (4件):
資料名:
巻:号: 10 P1  ページ: 21098-21106  発行年: 2018年 
JST資料番号: W3531A  ISSN: 2214-7853  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,(ZnO)_1-x(CuO)_x(x=1,2,3,4および5wt%)複合半導体を固相反応法により合成した。ZnO中の種々のドーパントの中で,銅原子はZn原子に対して類似の半径と電子シェルを有し,ドーパント関連二次相は形成するのが困難である。従って,CuはZnOの物理的性質の改良のための理想的なドーパントである。XRDの結果は,試料が六方晶ウルツ鉱相を有する結晶形であることを明らかにした。X線ピーク広がりをScherrerの方程式,Willison-Hall(W-H)モデルの修正形,均一変形モデル,均一応力変形モデルおよび均一変形エネルギー密度モデルおよびサイズ歪プロット(SSP)法によって解析した。W-HモデルとSSP法から計算した結晶子サイズ(D)と格子歪(∈)は同等で,互いに一致することが分かった。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
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酸化物の結晶成長  ,  酸化物結晶の磁性  ,  セラミック・陶磁器の製造  ,  酸化物薄膜 

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